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请问各位大侠:电子能量损失谱由哪几部分组成?通过近边精细结构的研究,我们可以获得哪些方面的信息?
回复(2) | 点击(1323)| 发表于 2008-09-02 09:20:49

做能谱时都有什么注意事项?请做过的朋友谈谈经验!先谢谢大家了!
回复(7) | 点击(1346)| 发表于 2008-09-02 09:18:51

谢谢1楼!
回复(3) | 点击(2122)| 发表于 2008-08-20 17:52:47

一般光谱中的相对强度最大是100,为什么衍射卡片里面相对强度有的大于100?
回复(3) | 点击(2122)| 发表于 2008-08-20 17:52:47

介孔(孔径2-50nm)在材料中成有序排列,象晶格一样的排列在材料中,孔壁、材料为非晶相。为什么XRD能粗测孔与孔的间距?我了解到的是,孔成有序排列,所以在小角度会有衍射峰,(001)面的峰值和孔径有关。但我不知道为什么? ...
回复(6) | 点击(8867)| 发表于 2008-08-19 16:29:04

XRD对样品要求比较宽松.样品少,稀释在酒精中,滴上几滴就可以.样品多,切割一块沾在上面就可以.
回复(3) | 点击(2685)| 发表于 2008-08-11 17:48:07

好像不能吧,它可以测量晶体的晶型。要测量含量可以用XPS,SIMS,UPS或者是卢瑟福背散射。
回复(5) | 点击(1137)| 发表于 2008-07-18 16:50:36